Bilimsel Araştırmalarda X-Işınları Analiz Teknikleri-1

Birincisi düzenlenecek olan “Bilimsel Araştırmalarda X-Işınları Analiz Teknikleri-1″ başlıklı eğitim etkinliği, bilimsel çalışmalarda oldukça geniş kullanım alanına sahip olan X-ışınları ve X-ışınları analiz teknikleri hakkında lisansüstü öğrenciler, genç araştırmacılar ve uzmanlara teorik ve uygulamalı olarak kapsamlı bir eğitimle mevcut imkânların daha doğru ve etkin kullanımını sağlamak amacıyla düzenlenmiştir. Programın kapsamı; X-ışınlarının keşfi, oluşum mekanizmaları, önemi, kullanım alanları, bilimsel araştırmalarda kullanılan X-ışınları analiz teknikleri (ED-XRF, WD-XRF, XRD, SAXS, WAXS, XPS, vb.) ve uygulamaları üzerine toplam 42 saat dersten oluşan bir haftalık bir eğitim etkinliğinden oluşmaktadır.

X-ışınları yüksek enerjili elektronların yavaşlatılması veya atomların iç yörüngelerindeki elektron geçişleri ile meydana gelen dalga boyları 0.1 – 100 Å arasında değişen elektromanyetik dalgalardır. Kristalografide 0.5 – 2.5 Å (yumuşak) ve radyolojide 0.5 – 1 Å (sert) dalga boylarındaki X-ışınları kullanılır. X-ışınları elektromanyetik spektrumda gama ışınları ile mor ötesi ışınlar arasında yer alırlar. X-ışınlarının frekansı görünür ışığın frekansından ortalama 1000 defa daha büyüktür ve X-ışını fotonu (parçacığı) görülen ışığın fotonundan daha yüksek enerjiye sahiptir. X-ışınları hem dalga hem tanecik özelliği gösterirler. X-ışınları, doğal ve yapay olmak üzere iki şekilde oluşurlar.

X-ışınları Röntgen tarafından keşfedilmesi ve özelliklerinin anlaşılmasının ardından, çok kısa dalga boyları ve yüksek enerjileri ile günlük hayat içinde sağlıktan endüstriye, astronomiden bilimsel çalışmalara varana kadar çok önemli ve yaygın kullanım alanları bulmuştur. Bunlardan en önemli birkaçını şöyle sıralayabiliriz: (i) X-ışınları tıpta teşhis ve tedavi aracı olarak büyük öneme sahiptir. Radyoskopi ve radyografi için genellikle kısa dalga boylu sert ışınlardan yararlanılır. Günümüzde, çeşitli tanecik hızlandırıcıları yardımı ile hızlandırılan çok yüksek enerjili elektronların frenlenmeleri sonucu, giderek çok daha kısa dalga boylu (yüksek frekanslı), dolayısıyla sert X-ışınlarının elde edilmeleri mümkün olmakta ve bunlar kanser tedavisinde ve bazı operasyonlarda kullanılmaktadır. (ii) X-ışınları maddenin yapısı, örneğin kristal düzeni ve karmaşık organik maddelerin molekül yapılarının aydınlatılmasında, günümüzde sıkça başvurulan bir araştırma aracıdır. (iii) Endüstriyel uygulamalarda malzeme kontrolünde, örneğin ele alınan bir malzemenin içinde yabancı bir madde, hava boşluğu ya da bir yapım hatası bulunup bulunmadığını anlamak için X-ışınları radyografisinden yararlanılır. (iv) Kimyada bir örnek içinde bulunan eser miktardaki yabancı maddenin analizi, (v) fizikte yeni elementlerin keşfedilmesi ve özelliklerinin incelenmesinde X-ışınları kullanılmaktadır. (vi) Nadir toprak elementleri ve uranyum ötesi elementlerin özellikleri yine X-ışınları kullanılarak saptanabilmektedir.

X-ışınları analiz cihazları, numunelerin sabit bir X-ışını kaynağına maruz bırakılarak içeriği hakkında bilgi veren cihazlardır. Bu cihazlarda bir X-ışını kaynağı ve bu kaynağın karşısında ışınları algılayan bir detektör bulunmaktadır. Numune bu ışınların yolu üzerine konulmakta ve malzemeden geçen ışınlar detektör tarafından algılanmaktadır. Amaca ve uygulamaya bağlı olarak kaynak-numune-dedektör geometrisinde araya kolimatör, ikincil hedef, filtre vb. araçlar girebilmektedir.

Bilimsel araştırmalarda en yaygın kullanılan X-ışınları analiz teknikleri arasında XRF (X-Ray Fluorescence) ve XRD (X-Ray Diffraction) teknikleri gelmektedir. Bunun dışında XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy), XES (X-Ray Emission Spectroscopy), XAS (X-Ray Absorption Spectroscopy), AES (Auger Emission Spectroscopy), ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis), SAXS (Small Angle X-Ray Scattering), WAXS (Wide Angle X-Ray Scattering) vb. spektroskopik sistemler mevcuttur.

Bilimsel araştırmalarda sıklıkla ihtiyaç duyulması ve maliyetlerinin oldukça yüksek olması dolayısıyla, X-ışınları cihazlarının çalışma prensiplerinin, hangi amaçla kullanılabileceklerinin ve özel uygulama gerektiren metotların öğrenilmiş olması yapılacak işin doğruluğu ve alınan cihazların sağlıklı ve etkin bir şekilde kullanılması açısından büyük önem taşımaktadır.

Bilimsel araştırmalarda X-ışınları analiz tekniklerine pek çok disiplinden (fizik, kimya, biyoloji, jeoloji, malzeme mühendisliği, eczacılık, arkeoloji, paleontoloji ve tıp) araştırmacıların ihtiyaç duymasına rağmen, ülkemizde bu konuda temel bilgilerin edinildiği birimler çoğunlukla Fizik Bölümleridir. Düzenlenen eğitim etkinliği konuya hâkim ve değişik uygulamalar üzerine çalışmalar yürütmüş fizikçilerden oluşan eğitmen kadrosunu çeşitli disiplinlerden X-ışınları analiz tekniklerinin kullanıcıları ve çalışmalarında bu yöntemlerden herhangi birine ihtiyaç duyan veya bu doğrultuda araştırmalar yürüten genç araştırmacılarla bir araya getirecek ve kaynaştıracak nitelikte bir etkinliktir.

Katılımcı arkadaşlarımıza şimdiden verimli ve başarılı bir kurs olmasını dileriz.

Düzenleme Kurulu adına
Doç. Dr. Songül AKBULUT ÖZEN

Etkinliğe Katılacak Katılımcılarda Aranan Şartlar

Etkinliğe Yüksek Lisans/Doktora öğrencileri veya Lisans eğitimini tamamlamış konuya ilgi duyan 35 yaş altı genç araştırmacılar ve uzmanlar başvuru yapabileceklerdir;
Tercihen bazı temel bilgilere hâkim, çalışmalarında X-ışınları analiz tekniklerinden herhangi birini kullanan, bu doğrultuda araştırmalar yürüten veya ileride kullanmayı planlayan her disiplinden adaylar başvuru yapabilirler;
Farklı kurumlardan katılımcıların seçilmesine özen gösterilecektir;
Etkinliğe kabul edilecek katılımcıların seçiminde başarı ölçütü olarak lisans mezuniyet not ortalaması ve konu ile ilgili olarak deneyimleri esas alınacaktır;
Daha önce TÜBİTAK’ın Bilimsel Eğitim Etkinlikleri kapsamında desteklenen bir eğitim etkinliğine katılmamış olmak;
Bilgisayar uygulamaları için ilgili programların katılımcıların bilgisayarlarına kurulması gerekmektedir. Bu nedenle kendi bilgisayarlarını getirmeleri zorunludur.
TÜBİTAK desteği alınması halinde katılımcıların ARBİS kayıtlarının güncel olması gerekmektedir.

http://www.bixat.org

CEVAP VER

Lütfen yorumunuzu giriniz!
lütfen isminizi buraya girin